環(huán)境掃描電子顯微鏡在材料科學(xué)中的若干應(yīng)用
發(fā)布日期：2006-08-23
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【作者】：姚?i，李春艷，董向紅，張長亮，薛濤，黃彥維 【單位】：天津大學(xué)分析測試中心，天津 300072 【摘要】： 本文簡單介紹了構(gòu)成環(huán)境掃描電鏡（ESEM）的多級真空系統(tǒng)和氣體二次電子探測器，描述了ESEM的基本工作原理。指出環(huán)境掃描電鏡在材料科學(xué)研究中的獨特作用、適用領(lǐng)域，并列舉了若干應(yīng)用實例。
