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STEM載網(wǎng)樣品臺

（STEM Imaging Holder）

      在掃描電鏡上配置透射附件，應用透射模式（Scanning transmission electron microscopy，STEM）可得到物質的內部結構信息，使其既有掃描電鏡的功能，又具備透射電鏡的功能，與透射電鏡相比，由于其加速電壓低，所以可顯著減少電子束對樣品的損傷，而且可大大提高圖像的襯度，特別適合于有機高分子、生物等軟材料樣品的透射分析。

      該STEM載網(wǎng)樣品臺可以裝載一枚TEM標準載網(wǎng)，STEM像由一塊可調的鉑轉換板生成，轉換板要面向SE探測器，使用樣品室現(xiàn)有的SE探測器是一個比較經濟有效的STEM成像方法。該樣品臺還配有一個防散射套筒（導電塑料），放置在樣品臺和極靴之間，可以有效阻止探測器接收樣品表面的二次電子信號，從而得到更加清晰的STEM圖片。

微柵支持膜的STEM圖像

樣品臺結構示意

1. 樣品臺支架

2. 可傾轉鋁臺

3. 鉑轉換板

4. 帶小孔TEM載網(wǎng)載臺

5. 防散射套筒（導電塑料）

6. 樣品臺釘型腿（3.2 x 9.5mm)

7. 六角扳手

   樣品安裝方法

   
   

1.六角扳手擰松螺絲，取下防散射套筒；  

2. 松開帶小孔TEM載網(wǎng)載臺螺絲并取下；

3. 將載網(wǎng)載臺頂部朝下水平放置在桌面；

4. 松開載臺頂部的固定螺絲，并小心提起載臺底部；

5. 將TEM載網(wǎng)平放在載臺頂部的凹槽中，有樣品的一面朝下；確保載網(wǎng)水平完整地被放置在載網(wǎng)載臺頂部的凹槽中；

6.將載網(wǎng)載臺的底部重新對接到頂部上，并上緊螺絲；

7.將載網(wǎng)載臺重新安放在樣品臺支架上，并上緊螺絲；

8.將防散射套筒安放在載網(wǎng)載臺上，并上緊螺絲；

樣品臺尺寸

整體高度：37.5mm

不加套筒高度：29.2mm

掃描電鏡STEM模式的應用

透射電鏡的加速電壓較高(一般為120-200kV)，對于有機高分子、生物等軟材料樣品的穿透能力強，形成的透射像襯度低，而掃描電鏡的加速電壓較低(一般用10-30kV)，因此應用其STEM模式成透射像，可大大提高像的襯度。圖3所示為有機太陽能電池用的高分子/富勒烯薄膜（有機固體實驗室樣品）的透射電子像，在用透射電鏡觀察其分相結構時，由于兩部分襯度都低，因此幾乎無法區(qū)分，而應用掃描電鏡的STEM模式觀察時，可清楚地觀察到兩相的結構。

除了可顯著提高透射像的襯度外，應用掃描電鏡STEM成像還有一個優(yōu)勢是可對樣品同時成掃描二次電子像和透射像，既可以得到同一位置的表面形貌信息又可以得到內部結構信息，避免了在掃描電鏡和透射電鏡之間轉換樣品、定位樣品的麻煩。圖5所示為應用掃描電鏡觀察有機螺旋納米線(光化學實驗室樣品)得到的二次電子像和透射像(STEM明場像和暗場像)，從二次電子像可以清楚地觀察到納米線的螺旋結構，從透射像可以看出納米線是實心結構非空心管結構。