《掃描電鏡測長問題的討論》正式出版
發布日期：2006-08-22
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由周劍雄研究員等編寫的四川電子科技大學正式出版的“掃描電鏡測長問題的討論”文集，將于2006年5月出版，歡迎選購。 該文集不僅是掃描電鏡測長領域的具有開創性的研究成果方面的總結，也是掃描電鏡、電子探針以及電子顯微鏡、各類光學顯微鏡、圖象分析儀等顯微實驗室必備的分析測試手冊和工具，對于提高實驗室的分析水平以及實驗室的認證和認可具有重要意義。姚駿恩院士正為本書的出版作序，中國科學院常務副院長（兼納米標準化技術委員會主任）白春禮院士也將為本書題字。詳細介紹見microbeam.com.cn(中華微束分析技術網)。 論文集將不僅是各有關實驗室和實驗人員的手冊，而且，對于廣大使用這類儀器的科學技術人員和研究生也有重要的參考價值。
